Lachin 4XC-W Microcomputer Metallographic Microscope faktori ak manifaktirè |Chengyu

4XC-W Microcomputer Metallographic Microscope Imaj Prezantasyon

4XC-W Microcomputer mikwoskòp metalografik

Spesifikasyon

4XC-W òdinatè metalografik mikwoskòp BECA

4XC-W òdinatè mikwoskòp métallurgique se yon mikwoskòp métallurgique trinocular inverse, ekipe ak yon ekselan long fokal longè plan achromatik objektif lantiy ak yon gwo jaden de vi plan oculaire.Pwodwi a se kontra enfòmèl ant nan estrikti, pratik ak konfòtab yo opere.Li apwopriye pou obsèvasyon mikwoskopik estrikti metalografi ak mòfoloji sifas, epi li se yon enstriman ideyal pou metaloloji, mineraloji, ak rechèch jeni presizyon.

Sistèm obsèvasyon

Tib obsèvasyon gon: tib obsèvasyon binokilè, vizyon sèl reglabl, 30 ° enklinezon nan tib la lantiy, konfòtab ak bèl.Tib gade trinokulèr, ki ka konekte ak yon aparèy kamera.Eyepiece: WF10X gwo jaden oculaire plan, ak yon ranje jaden de vi de φ18mm, bay yon espas obsèvasyon lajè ak plat.

Etap mekanik

Etap k ap deplase mekanik la gen yon plak etap sikilè ki wotabilite, epi li vire plak etap sikilè nan moman obsèvasyon limyè polarize pou satisfè egzijans mikwoskòp limyè polarize a.

Sistèm ekleraj

Sèvi ak metòd la ekleraj Kola, dyafram nan Ouverture ak dyafram jaden an ka ajiste pa kadran, ak ajisteman an se lis ak konfòtab.Polarizateur opsyonèl, ochwa a ka ajiste ang polarization pa 90° pou obsève imaj mikwoskopik anba diferan eta polarization.

Spesifikasyon

Spesifikasyon		Modèl
Atik	Detay yo	4XC-W
Sistèm optik	Sistèm optik koreksyon aberasyon fini	·
tib obsèvasyon	Tib binokilè gon, 30 ° enklinezon;tib trinokulèr, distans interpupillary reglabl ak dioptri.	·
Oculaire (gwo jaden de vi)	WF10X (Φ18mm)	·
	WF16X (Φ11mm)	O
	WF10X (Φ18mm) Avèk règ kwa divizyon	O
Lantiy objektif estanda(Objektif akromatik plan long lan)	PL L 10X/0.25 WD8.90mm	·
	PL L 20X/0.40 WD3.75mm	·
	PL L 40X/0.65 WD2.69mm	·
	SP 100X/0.90 WD0.44mm	·
Si ou vle lantiy objektif(Objektif akromatik plan long lan)	PL L50X/0.70 WD2.02mm	O
	PL L 60X/0.75 WD1.34mm	O
	PL L 80X/0.80 WD0.96mm	O
	PL L 100X/0.85 WD0.4mm	O
konvètisè	Boul enteryè pwezante kat twou konvètisè	·
konvètisè	Boul enteryè pozisyon senk-twou konvètisè	O
Mekanis konsantre	Ajisteman konsantre kowaksyal pa mouvman koryas ak amann, valè ajisteman amann: 0.002mm;konjesyon serebral (ki soti nan konsantre nan sifas la etap): 30mm.Mouvman koryas ak tansyon reglabl, ak aparèy bloke ak limit	·
Etap	Double-kouch mekanik kalite mobil (gwosè: 180mmX150mm, ranje k ap deplase: 15mmX15mm)	·
Sistèm ekleraj	6V 20W Halogen limyè, reglabl klète	·
Pwodwi pou polarize	Gwoup analizeur, gwoup polarizè	O
Filtre koulè	Filtè jòn, filtre vèt, filtre ble	·
Sistèm analiz metalografik	JX2016Lojisyèl analiz metalografik, aparèy kamera 3 milyon, koòdone lantiy adaptè 0.5X, mikromèt.	·
PC	HP òdinatè biznis	O

Remak: "·" se konfigirasyon estanda; "O" se opsyonèl

JX2016 estati metalografik analiz lojisyèl BECA

"Pwofesyonèl quantitative estati metalografik analiz òdinatè sistèm operasyon" configuré pa pwosesis sistèm analiz metalografik imaj yo ak konparezon an tan reyèl, deteksyon, evalyasyon, analiz, estatistik ak pwodiksyon rapò grafik echantiyon kat yo kolekte.Lojisyèl la entegre teknoloji avanse analiz imaj jodi a, ki se konbinezon pafè a nan mikwoskòp metalografik ak teknoloji analiz entelijan.DL/DJ/ASTM, elatriye).Sistèm nan gen tout entèfas Chinwa, ki se kout, klè ak fasil pou opere.Apre fòmasyon senp oswa refere li a manyèl enstriksyon an, ou ka opere li lib.Epi li bay yon metòd rapid pou aprann bon sans metalografik ak popilarize operasyon yo.

JX2016 estati metalografik analiz fonksyon lojisyèl

Lojisyèl koreksyon imaj: plis pase dis fonksyon tankou akizisyon imaj ak depo imaj;

Lojisyèl imaj: plis pase dis fonksyon tankou amelyorasyon imaj, kouvri imaj, elatriye;

Lojisyèl mezi imaj: plizyè douzèn fonksyon mezi tankou perimèt, zòn, ak pousantaj kontni;

Sòti mòd: pwodiksyon tab done, pwodiksyon istogram, pwodiksyon enprime imaj.

Lojisyèl metalografi dedye

Mezi ak evalyasyon gwosè grenn (ekstraksyon fwontyè grenn, rekonstriksyon fwontyè grenn jaden, sèl faz, faz doub, mezi gwosè grenn, evalyasyon);

Mezi ak evalyasyon enklizyon ki pa metalik (ki gen ladan sulfid, oksid, silikat, elatriye);

Mezi ak evalyasyon kontni pèlit ak ferit;ductile fè grafit mezi nodularite ak evalyasyon;

Kouch dekarburizasyon, mezi kouch karburize, mezi epesè kouch sifas;

Mezi pwofondè soude;

Mezi faz-zòn nan asye pur feritik ak austenitic;

Analiz de Silisyòm prensipal ak Silisyòm eutektik nan alyaj aliminyòm segondè Silisyòm;

Analiz materyèl alyaj Titàn ... elatriye;

Gen atlas metalografik nan prèske 600 materyèl metal souvan itilize pou konparezon, satisfè kondisyon yo nan analiz metalografik ak enspeksyon nan pifò inite yo;

Nan sans de ogmantasyon kontinyèl nan nouvo materyèl ak enpòte materyèl klas, materyèl ak estanda evalyasyon ki pa te antre nan lojisyèl an ka Customized ak antre.