Lachin 4XC-W mikro-mikroskop Metalografik Mikwoskòp Faktori ak Konpayi fabrikasyon

4xc-W mikro mikroskop metalografik chin an tap imaj

4xc-W mikroskop mikwoskòp metalografik

Spesifikasyon

4xc-W òdinatè metalografik BECA mikwoskòp

4XC-W òdinatè mikwoskòp métallurgique se yon trinokulèr inverse mikwoskòp métallurgique, ekipe ak yon ekselan lontan fokal longè plan akromatik objektif lantiy ak yon gwo jaden de vi plan. Pwodwi a se kontra enfòmèl ant nan estrikti, pratik ak konfòtab yo opere. Li se apwopriye pou obsèvasyon mikwoskopik nan estrikti metalografik ak mòfoloji sifas yo, epi li se yon enstriman ideyal pou metaloloji, mineraloji, ak rechèch jeni presizyon.

Sistèm Obsèvasyon

Tib obsèvasyon artikulé: tib obsèvasyon binokilè, reglabl vizyon sèl, 30 ° enklinezon nan tib la lantiy, konfòtab ak bèl. Tib gade trinokulèr, ki ka konekte nan yon aparèy kamera. Oksilyè: WF10X gwo plan jaden okulèr, ak yon jaden de vi ranje nan Φ18mm, bay yon espas obsèvasyon lajè ak plat.

Etap mekanik

Etap la deplase mekanik gen yon bati-an plak rotatable etap sikilè, ak se plak la etap sikilè vire toutotou a nan moman sa a nan polarize obsèvasyon limyè satisfè kondisyon ki nan mikroskopi limyè polarize.

Sistèm ekleraj

Sèvi ak metòd la ekleraj KOLA, dyafram nan Ouverture ak dyafram nan jaden ka ajiste pa kadran, ak ajisteman an se lis ak konfòtab. Polarizer nan si ou vle ka ajiste ang lan polarizasyon pa 90 ° yo obsève imaj mikwoskopik anba diferan eta polarizasyon.

Spesifikasyon

Spesifikasyon		Modèl
Sijè	Detay	4xc-w
Sistèm optik	Fini aberasyon koreksyon sistèm optik	·
tib obsèvasyon	Tib binokulèr artikulé, 30 ° enklinezon; Tib trinocular, reglabl distans entèpilary ak diopter.	·
Okulè (gwo jaden de vi)	WF10x (Φ18mm)	·
	Wf16x (Φ11mm)	O
	WF10X (Φ18mm) ak règ divizyon kwa	O
Lantiy objektif estanda(Long jete plan akromatik objektif)	Pl l 10x/0.25 wd8.90mm	·
	Pl l 20x/0.40 wd3.75mm	·
	PL L 40x/0.65 WD2.69mm	·
	Sp 100x/0.90 wd0.44mm	·
Si ou vle objektif lantiy(Long jete plan akromatik objektif)	PL L50x/0.70 WD2.02mm	O
	PL L 60x/0.75 WD1.34mm	O
	PL L 80X/0.80 WD0.96mm	O
	Pl l 100x/0.85 wd0.4mm	O
konvètè	Boul enteryè pwezante kat-twou konvètisè	·
konvètè	Boul enteryè pwezante senk-twou konvètisè	O
Konsantre mekanis	Ajisteman konsantre kowaksyal pa mouvman koryas ak amann, valè ajisteman amann: 0.002mm; Konjesyon Serebral (ki soti nan konsantre nan sifas la etap): 30mm. Mouvman koryas ak tansyon reglabl, ak bloke ak limite aparèy	·
Platfòm	Double-kouch mekanik kalite mobil (gwosè: 180mmx150mm, k ap deplase ranje: 15mmx15mm)	·
Sistèm ekleraj	6V 20W limyè alojene, klète reglabl	·
Pwodwi pou Telefòn polarizan	Analyzer Group, Polarizer Group	O
Koulè filtre	Filtè jòn, filtre vèt, filtre ble	·
Sistèm analiz metalografik	Lojisyèl analiz JX2016Metallographic, 3 milyon dola aparèy kamera, 0.5x koòdone lantiy adaptè, mikrometrik	·
PC	HP Odinatè Biznis	O

Remak: "· "Se konfigirasyon estanda;"O "se si ou vle

JX2016 Metalografik Imaj analiz Software Apèsi sou lekòl la

"Pwofesyonèl quantitative metallographic imaj analiz sistèm nan opere" configuré pa pwosesis yo sistèm analiz imaj metalografik ak konparezon an tan reyèl, deteksyon, Rating, analiz, estatistik ak pwodiksyon rapò grafik nan kat yo echantiyon kolekte. Lojisyèl la entegre teknoloji avanse analiz imaj jodi a, ki se konbinezon pafè a nan mikwoskòp metalografik ak teknoloji analiz entèlijan. DL/DJ/ASTM, elatriye). Sistèm lan gen tout interfaces Chinwa yo, ki se kout, klè ak fasil yo opere. Apre fòmasyon senp oswa refere li a manyèl la enstriksyon, ou ka opere li lib. Epi li bay yon metòd rapid pou aprann sans komen metalografik ak popilarize operasyon yo.

JX2016 Metalografik Imaj analiz lojisyèl fonksyon

Imaj Korije lojisyèl: Plis pase dis fonksyon tankou akizisyon imaj ak depo imaj;

Lojisyèl Imaj: Plis pase dis fonksyon tankou amelyorasyon imaj, kouvri imaj, elatriye;

Lojisyèl mezi imaj: plizyè douzèn fonksyon mezi tankou perimèt, zòn, ak kontni pousantaj;

Mòd pwodiksyon: pwodiksyon done tab, pwodiksyon istogram, pwodiksyon enprime imaj.

Dedye lojisyèl metalografik

Mezi gwosè grenn ak Rating (fè ekstraksyon fwontyè grenn jaden, rekonstriksyon fwontyè grenn, faz sèl, faz doub, mezi gwosè grenn, Rating);

Mezi ak Rating nan enklizyon ki pa metalik (ki gen ladan sulfid, oksid, silikat, elatriye);

Pearlite ak mezi kontni ferit ak Rating; Ductile fè grafit mezi nodularite ak Rating;

Kouch decarburizasyon, mezi kouch carburized, mezi epesè kouch sifas;

Mezi pwofondè soude;

Mezi faz-zòn nan asye pur feritik ak austenitik;

Analiz de silisyòm prensipal ak silikon eutectic nan segondè alyaj aliminyòm Silisyòm;

Analiz materyèl alyaj Titàn ... elatriye;

Gen atlas metalografik nan prèske 600 materyèl metal souvan itilize pou konparezon, satisfè kondisyon ki nan analiz metalografik ak enspeksyon nan pi inite;

Nan sans de ogmantasyon kontinyèl nan nouvo materyèl ak materyèl klas enpòte, materyèl ak estanda evalyasyon ki pa te antre nan lojisyèl an ka Customized ak antre nan.